武漢光谷薄膜整理了集成電路掃描設(shè)計技術(shù)介紹供大家參考?時序電路測試比組合邏輯電路測試要復(fù)雜?為了使電路進入相應(yīng)狀態(tài)?需要施加輸人信號以便狀態(tài)之間進行轉(zhuǎn)換?并在輸出端檢測是否進入了相應(yīng)狀態(tài)且能夠進行預(yù)期的轉(zhuǎn)換?

為了達到上述目的?在只增加少數(shù)輸人?輸出端的前提下?能夠控制和觀察電路內(nèi)部各觸發(fā)器的狀態(tài)?比較有效的方法是采用掃描設(shè)計技術(shù)?這種方法通過把內(nèi)部各觸發(fā)器的狀態(tài)送到一個移位寄存器，以便觀察；同時又可以把移位寄存器的狀態(tài)送回觸發(fā)器?從而實現(xiàn)對各觸發(fā)器的控制?

對于采用掃描設(shè)計技術(shù)的待測電路來說?其工作狀態(tài)分為正常工作和移位寄存器工作兩種方式?最常見的掃描設(shè)計實現(xiàn)方式是采用數(shù)據(jù)選擇器?這樣可以把時序電路的測試轉(zhuǎn)換為組合電路的測試?降低了時序電路測試的復(fù)雜性?  采用掃描設(shè)計技術(shù)的可測性設(shè)計方法很多?如全掃描技術(shù)?部分掃描技術(shù)和邊界掃描技術(shù)等?武漢光谷薄膜會陸續(xù)介紹微控制器測試隨機存取掃描和減少干擾掃描路徑方法?