根據(jù)客戶(hù)需求?可定制電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)針對(duì)進(jìn)行變溫充放電測(cè)試的冷熱臺(tái)?考查電解質(zhì)材料的充放電速率以及儲(chǔ)能密度?

電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)主要用于研究介電儲(chǔ)能材料高電壓放電性能?目前常規(guī)的方法是通過(guò)電滯回線(xiàn)計(jì)算高壓下電介質(zhì)的能量密度?測(cè)試時(shí)?樣品的電荷是放回到高壓源上?而不是釋放到負(fù)載上?通過(guò)電滯回線(xiàn)測(cè)得的儲(chǔ)能密度一般會(huì)大于樣品實(shí)際釋放的能量密度?無(wú)法正確評(píng)估電介質(zhì)材料的正常放電性能? 光谷薄膜儲(chǔ)能型電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)專(zhuān)為研究?jī)?chǔ)能電介質(zhì)材料快速充放電性能而設(shè)計(jì)?適用各種薄膜材料?可進(jìn)行變溫下的欠?過(guò)阻尼充放電測(cè)試?是目前研究?jī)?chǔ)能材料的重要科研設(shè)備?

產(chǎn)品特點(diǎn)￤本系統(tǒng)采用特殊高壓開(kāi)關(guān)?通過(guò)單刀雙擲控制充電和放電過(guò)程?開(kāi)關(guān)可以承受10kV高壓?寄生電容小?動(dòng)作時(shí)間短；最大電壓10kV,電流5mA;通過(guò)電流探頭檢測(cè)放電電流?最高可達(dá)100A;可以實(shí)現(xiàn)欠阻尼和過(guò)阻尼兩種測(cè)試模式?欠阻尼測(cè)試時(shí)?放電回路短路?不使用電阻負(fù)載?過(guò)阻尼測(cè)試時(shí)?使用較大的高精度無(wú)感電阻作為放電負(fù)載；通過(guò)示波器采集數(shù)據(jù)?并能直接計(jì)算儲(chǔ)能密度；定制載樣平臺(tái)?可適用于陶瓷和薄膜樣品測(cè)試；可以變溫測(cè)試?RT~200°C;可以疲勞測(cè)試?

主要參數(shù)￤電流探頭帶寬￤120MHz;峰值電流￤0-100A?150 A(多種電流可監(jiān)測(cè));電流采集精度￤1mA;高壓源模塊￤3KV?5KV?10kV?15KV多可選(電流：0-5mA);開(kāi)關(guān)適用￤100萬(wàn)次?耐壓15kV;溫控范圍￤0-200°C;溫度穩(wěn)定性和精度￤0.1°C;測(cè)試樣品￤薄膜?厚膜?陶瓷?玻璃等；可以配合各種極化設(shè)備進(jìn)行多種壓電材料和介電材料的測(cè)試?