探針臺(tái)(Probe Station)是一種用于對(duì)半導(dǎo)體器件進(jìn)行電性能測(cè)試的設(shè)備?

探針臺(tái)是一種用于半導(dǎo)體器件電性能測(cè)試的關(guān)鍵設(shè)備，它通過(guò)精密的機(jī)械 結(jié)構(gòu)?高性能的探針針頭和電性能測(cè)試儀器，對(duì)半導(dǎo)體芯片?集成電路和 其他微電子器件進(jìn)行直接的電性能測(cè)試?

探針臺(tái)具備高精度?高靈敏度以及環(huán)境適應(yīng)性強(qiáng)的特點(diǎn)，能夠支持集成光 學(xué)測(cè)試?電磁測(cè)試等多種測(cè)試手段，為半導(dǎo)體器件的全面性能評(píng)估提供有 力支持?

探針臺(tái)是用于半導(dǎo)體器件?集成電路和其他微電子元件的電學(xué)特性測(cè)試的 重要設(shè)備，被廣泛應(yīng)用于研發(fā)?質(zhì)量控制和生產(chǎn)測(cè)試中?