光谷薄膜提供可定制的高溫探針熱臺(tái),此熱臺(tái)能夠適配霍爾效應(yīng)測(cè)試儀器?高溫探針熱臺(tái)是專(zhuān)門(mén)為研究樣品變溫電學(xué)性能測(cè)試而精心設(shè)計(jì)的產(chǎn)品,可有效表征樣品電學(xué)性能隨溫度變化的特點(diǎn)。該定制產(chǎn)品運(yùn)用電阻加熱的方式,在 RT 至 600℃的范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)控制,并能與其他電學(xué)儀表(如電橋?源表?萬(wàn)用表等)搭配集成,進(jìn)行變溫原位測(cè)試?
高溫探針熱臺(tái)配備有溫度控制器,與之配套的上位機(jī)溫控軟件便于進(jìn)行溫度設(shè)置和采集?
探針冷熱臺(tái)主要技術(shù)參數(shù)如下:
上一個(gè):定制外置四探針冷熱臺(tái)可表征電學(xué)性能隨溫度變化的特征
下一個(gè):高溫冷熱臺(tái)光學(xué)變溫原位測(cè)試解決方案