針對(duì)半導(dǎo)體器件在γ射線輻照環(huán)境下的低溫穩(wěn)定性問題，嘉儀通采用液氮低溫恒溫器，結(jié)合精密源表與鈷源輻照裝置，構(gòu)建了HBT器件低溫輻射損傷特性測(cè)試平臺(tái)。

核心設(shè)備：

液氮低溫恒溫器：

? 提供連續(xù)可調(diào)的低溫實(shí)驗(yàn)環(huán)境（控溫精度±0.1K）；

? 針對(duì)鈷源輻照裝置兼容設(shè)計(jì)：  

  - 定制化樣品臺(tái)（方便引線）；

  - 石英玻璃觀測(cè)窗（透射率高）；

源表系統(tǒng)：

? 實(shí)現(xiàn)高精度I-V特性測(cè)量；

? 實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)輻照過程中的電參數(shù)漂移；

鈷源輻照裝置（客戶提供）：提供伽瑪射線；

本方案通過液氮低溫恒溫器模塊化設(shè)計(jì)解決了傳統(tǒng)輻射測(cè)試中的溫度控制難題，其獨(dú)立樣品腔室設(shè)計(jì)既可保證低溫環(huán)境穩(wěn)定性，又能滿足輻照實(shí)驗(yàn)的安全距離要求，為研究低溫協(xié)同輻射效應(yīng)提供了可靠實(shí)驗(yàn)條件。