探針臺(tái)的應(yīng)用領(lǐng)域

半導(dǎo)體行業(yè)：進(jìn)行集成電路的電氣性能測(cè)試，包括晶圓測(cè)試和封裝后的測(cè)試；

光電行業(yè)：測(cè)試光電元件如LED、光電探測(cè)器和激光器的性能，精密電氣測(cè)量的研發(fā)；

材料科學(xué)：用于表征材料表面的微觀形態(tài)，如表面缺陷、晶粒大小等，為材料研究提供支持；

微電子領(lǐng)域：用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量，失效分析與可靠性驗(yàn)證，確保質(zhì)量和可靠性；

納米技術(shù)：納米材料和納米結(jié)構(gòu)的制備、表征和性能測(cè)試，納米器件的制造與測(cè)試，多尺度研究；

生物醫(yī)學(xué)：研究生物材料表面的生物相容性，生物分子、細(xì)胞和組織的高分辨率成像和分析；

科研與教育：在研究所和高校中，探針臺(tái)用于科研和教學(xué)，支持基礎(chǔ)和應(yīng)用研究；

其它領(lǐng)域：能源行業(yè)、航天航空、汽車電子、通信技術(shù)、量子計(jì)算與量子信息、傳感器技術(shù)等；