集成電路缺陷?故障和失效是集成電路設(shè)計和制造過程中的重要概念?在研發(fā)階段用探針臺來檢測是比較常見的?

通常?集成電路有兩種工作狀態(tài)￤正常和非正常?

導(dǎo)致集成電路處于非正常工作狀態(tài)的因素包括設(shè)計過程中考慮不周全和制造過程中的一些物理?化學(xué)因素?

上述造成集成電路不符合技術(shù)條件從而不能正常工作的各種因素統(tǒng)稱為集成電路缺陷?

如果集成電路缺陷導(dǎo)致其功能發(fā)生變化?則稱為故障?故障有可能導(dǎo)致集成電路失效?但也有可能會不失效?

故障診斷可以通過集成電路測試來確定其故障?因此有時也稱為故障檢測?

故障檢測主要檢驗電路是否實現(xiàn)了預(yù)定的功能?是否發(fā)生了故障?

故障定位是在故障檢測的基礎(chǔ)上進(jìn)一步確定發(fā)生了何種故障?

探針臺可以對集成電路缺陷?故障和失效分析都是有一定的幫助的！