偏光顯微鏡測(cè)試變溫臺(tái)應(yīng)用￤

為實(shí)現(xiàn)低溫/變溫場(chǎng)景的測(cè)試?可以通過(guò)變溫臺(tái)和偏光顯微鏡的光路匹配設(shè)計(jì)保持原有光學(xué)測(cè)試完整性?并且實(shí)現(xiàn)樣品在78-600K可控溫度范圍內(nèi)?

偏光顯微鏡測(cè)試變溫臺(tái)應(yīng)用對(duì)于材料科學(xué)?生命科學(xué)?地質(zhì)學(xué)?納米科學(xué)與納米技術(shù)?電子學(xué)以及半導(dǎo)體等多個(gè)領(lǐng)域的研究具有不可或缺的價(jià)值?

有助于觀察材料在不同溫度下的性質(zhì)變化?低溫或變溫偏光顯微鏡測(cè)試對(duì)于研究材料的相變行為具有重要意義?低溫或變溫條件還可能揭示新材料的特殊性質(zhì)?