電路測試方法包括模塊劃分?增加控制線及觀察點?消除電路中的冗余邏輯等?下面以實際電路為例具體介紹兩種方法?

1. 模塊劃分

這種方法將一個復雜的電路劃分成若干個子電路或者模塊?然后通過一些附加選擇邏輯?在芯片測試的不同階段將測試信號分別選通各個小模塊?從而提高電路的可測試性?劃分過程中通常采用數據總線結構和數據選擇器進行?

在一個數字調諧系統(tǒng)功能框圖中可以清楚地看到?該芯片由CU?I/O口及鎖相環(huán)三大模塊組成?而MCU部分又分成ROM?RAM?指令譯碼器?程序計數器堆棧寄存器及ALU等模塊?通過地址總線和數據總線相互連接?對于這樣的電路劃分?電路的可測試性可明顯提高?

2. 增加控制線及觀察點

增加控制線和觀察點的目的是使得電路內部的狀態(tài)可控與可觀察?

針對時序電路單元中的復位端、置位端、時鐘信號等可以設置控制線?以便根據測試需要把該單元設置到相應的狀態(tài)?對于電路中的一些反饋線也可以設置控制線?目的是在測試階段將反饋邏輯斷開?

由于一個集成電路鏈接探針臺等設備的外引腳數量通常是有限的?因此在增加觀察點時盡量減少外部控制點和觀察點?最大限度地增加內部的控制點和觀察點?通過外引腳的復用和利用數據選擇器等方法可以達到增加觀察點的目的?