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數(shù)字調(diào)諧系統(tǒng)芯片增加控制線及觀察點(diǎn)的具體做法如下￤1)測(cè)試狀態(tài)的建立根據(jù)該系統(tǒng)上電時(shí)復(fù)位輸入端RES ...

電路測(cè)試方法包括模塊劃分?增加控制線及觀察點(diǎn)?消除電路中的冗余邏輯等?下面以實(shí)際電路為例具體介紹兩種 ...

通過(guò)探針臺(tái)的集成電路測(cè)試技術(shù)中?測(cè)試碼生成的方式主要有兩種￤基于故障的確定性測(cè)試生成方法和生成符合隨 ...

隨著集成電路設(shè)計(jì)和制造技術(shù)的發(fā)展?一個(gè)集成電路芯片上可能集成了上千萬(wàn)個(gè)甚至更多的元件?由于上面提到的 ...

探針臺(tái)一般會(huì)聯(lián)用到一些源表?對(duì)測(cè)試對(duì)象輸入輸出電流電壓?從而達(dá)到一些電學(xué)測(cè)試目的?靜態(tài)電參數(shù)測(cè)試對(duì)于 ...

對(duì)于集成電路晶圓測(cè)試來(lái)說(shuō)?通常要經(jīng)過(guò)以下幾個(gè)工藝步驟￤1.合格晶圓接收；2.晶圓烘焙；3.晶圓測(cè)試； ...

集成電路測(cè)試系統(tǒng)在執(zhí)行過(guò)程中?通過(guò)以下幾個(gè)步驟來(lái)得出測(cè)試結(jié)果￤1?測(cè)量值記錄方法通過(guò)探針臺(tái)等測(cè)試收到 ...

集成電路的性能和特性主要受到電路設(shè)計(jì)和制造工藝的影響?同時(shí)也與電路的工作條件?如電源電壓?環(huán)境溫度等 ...

集成電路缺陷?故障和失效是集成電路設(shè)計(jì)和制造過(guò)程中的重要概念?在研發(fā)階段用探針臺(tái)來(lái)檢測(cè)是比較常見(jiàn)的? ...

光谷薄膜作為探針臺(tái)?冷熱臺(tái)?液氮低溫恒溫器設(shè)備研發(fā)制造商?業(yè)密切關(guān)注著集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展動(dòng)態(tài)?為個(gè)高校 ...