集成電路測試系統(tǒng)在執(zhí)行過程中?通過以下幾個(gè)步驟來得出測試結(jié)果￤

1?測量值記錄方法

通過探針臺(tái)等測試收到記錄測量值?這種方法僅記錄實(shí)際的全部或部分測試數(shù)據(jù)?或者僅記錄失效參數(shù)?以便后續(xù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析?

2?變更輸入條件下的測量值記錄方法

這種方法是在原有測量值記錄方法的基礎(chǔ)上?改變輸入?yún)?shù)?并記錄相應(yīng)的測試數(shù)據(jù)及其對(duì)應(yīng)的輸入激勵(lì)?通過評(píng)估不同輸入情況下各個(gè)參數(shù)之間的關(guān)系?可以更全面地了解產(chǎn)品的性能?

3?合格性判斷方法

在使用這種方法之前?需要事先確定各個(gè)參數(shù)的測試標(biāo)準(zhǔn)?如果實(shí)際測試數(shù)據(jù)在測試標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)?則判斷為合格品；否則判斷為不合格品?這種方法主要用于生產(chǎn)性測試?同時(shí)也可以進(jìn)行失效參數(shù)的統(tǒng)計(jì)分析?

4?測試程序調(diào)試方法

當(dāng)在探針臺(tái)等測試過程中發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤時(shí)?需要對(duì)測試程序進(jìn)行修改調(diào)試?這時(shí)就需要采用這種方法?