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2024-05

探針臺等設(shè)備在集成電路測試中增加控制線及觀察點

數(shù)字調(diào)諧系統(tǒng)芯片增加控制線及觀察點的具體做法如下¦1)測試狀態(tài)的建立根據(jù)該系統(tǒng)上電時復(fù)位輸入端RES ...

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2024-05

集成電路可測性設(shè)計?也包括簡化測試探針臺等設(shè)備

隨著集成電路規(guī)模的快速增大?集成電路測試的困難和復(fù)雜度也不斷增加?因此在集成電路設(shè)計階段就要考慮測試 ...

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2024-05

普通探針臺對于集成電路偽隨機測試法相對容易實現(xiàn)

偽隨機測試生成方法是一種測試方法?它可以生成符合隨機特征數(shù)據(jù)的測試圖形?這種方法通常由微處理器的測試 ...

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2024-05

集成電路偽窮舉測試可減少探針臺等設(shè)備總測試次數(shù)

偽窮舉測試是集成電路測試技術(shù)中的一種方法?它可以大大減少探針臺等設(shè)備總的測試次數(shù)和時間?偽窮舉測試具 ...

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2024-04

探針臺通路敏化集成電路測試碼生成步驟

探針臺基于通路敏化進行集成電路測試碼生成的具體步驟如下¦1?設(shè)置故障效應(yīng)?最常用的故障模型為固定電平 ...

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2024-04

通過探針臺對固定電平故障檢測生成測試碼方法

通過探針臺對固定電平故障檢測生成測試碼方法¦固定電平故障¦是指導(dǎo)致電路中某一個節(jié)點電平為固定值的這一 ...

25

2024-04

基于測試碼生成的探針臺集成電路測試技術(shù)

隨著集成電路設(shè)計和制造技術(shù)的發(fā)展?一個集成電路芯片上可能集成了上千萬個甚至更多的元件?由于上面提到的 ...

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2024-04

探針臺等集成電路測試方式和判斷

集成電路測試系統(tǒng)在執(zhí)行過程中?通過以下幾個步驟來得出測試結(jié)果¦1?測量值記錄方法通過探針臺等測試收到 ...

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2024-04

晶圓探針臺在集成電路測試的應(yīng)用

集成電路測試是驗證設(shè)計?控制工藝?管理生產(chǎn)?保證質(zhì)量?分析失效以及指導(dǎo)應(yīng)用等的重要手段?集成電路測試 ...

07

2024-04

探針臺是集成電路晶圓測試環(huán)節(jié)的設(shè)備之一

集成電路產(chǎn)業(yè)鏈?zhǔn)紫葟脑O(shè)計開始?然后是集成電路品圓制造;制造完成的品圓要經(jīng)過集成電路品圓測試環(huán)節(jié)后才能 ...

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