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2024-05
數(shù)字調(diào)諧系統(tǒng)芯片增加控制線及觀察點的具體做法如下¦1)測試狀態(tài)的建立根據(jù)該系統(tǒng)上電時復(fù)位輸入端RES ...
03
2024-05
隨著集成電路規(guī)模的快速增大?集成電路測試的困難和復(fù)雜度也不斷增加?因此在集成電路設(shè)計階段就要考慮測試 ...
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2024-05
偽隨機測試生成方法是一種測試方法?它可以生成符合隨機特征數(shù)據(jù)的測試圖形?這種方法通常由微處理器的測試 ...
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2024-05
偽窮舉測試是集成電路測試技術(shù)中的一種方法?它可以大大減少探針臺等設(shè)備總的測試次數(shù)和時間?偽窮舉測試具 ...
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2024-04
隨著集成電路設(shè)計和制造技術(shù)的發(fā)展?一個集成電路芯片上可能集成了上千萬個甚至更多的元件?由于上面提到的 ...
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2024-04
集成電路測試是驗證設(shè)計?控制工藝?管理生產(chǎn)?保證質(zhì)量?分析失效以及指導(dǎo)應(yīng)用等的重要手段?集成電路測試 ...
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2024-04
集成電路產(chǎn)業(yè)鏈?zhǔn)紫葟脑O(shè)計開始?然后是集成電路品圓制造;制造完成的品圓要經(jīng)過集成電路品圓測試環(huán)節(jié)后才能 ...