探針臺(tái)基于通路敏化進(jìn)行集成電路測(cè)試碼生成的具體步驟如下￤

1?設(shè)置故障效應(yīng)?最常用的故障模型為固定電平故障?是指導(dǎo)致電路中某一個(gè)節(jié)點(diǎn)電平為固定值的這一類故障?

2?確定傳輸通路?通過(guò)對(duì)有限數(shù)目的輸人端和輸出端進(jìn)行測(cè)量來(lái)實(shí)現(xiàn)，而對(duì)于集成電路來(lái)說(shuō)?通常利用計(jì)算機(jī)預(yù)先生成一個(gè)確定的測(cè)試碼集?并執(zhí)行測(cè)試程序?這種方法就是預(yù)定向量測(cè)試?

3?將該通路進(jìn)行敏化?通路敏化法是使故障至少沿一條通路敏化?即適當(dāng)選擇原始輸入值使故障位置的正常信號(hào)值與故障值相反?在故障情況下?隨著此信號(hào)值改變?線路內(nèi)至少應(yīng)有一個(gè)輸出端的值受其影響而改變?即敏化為故障?

4?設(shè)置電路外輸入端的邏輯值?尋找一個(gè)輸入組合并將之施加到電路輸入端使得故障點(diǎn)產(chǎn)生了預(yù)定的故障效應(yīng)(通過(guò)該效應(yīng)?使得電路中某節(jié)點(diǎn)的正常電平與發(fā)生故障時(shí)的不同)?并且使得該點(diǎn)到電路的某一個(gè)輸出端之間有一條通路敏化?那么這個(gè)輸入組合就是上述給定故障的一個(gè)測(cè)試碼?上述各個(gè)外輸入端的邏輯值就組成了一個(gè)測(cè)試碼?

探針臺(tái)對(duì)于基于故障的確定性測(cè)試生成方法來(lái)說(shuō)?通常要求用專門的算法對(duì)特定的故障生成測(cè)試圖形?如D算法?PODEM算法?FAN算法?FASTEST算法和CONTEST算法等?這種方法生成的測(cè)試圖形相對(duì)來(lái)說(shuō)長(zhǎng)度短?但生成過(guò)程比較復(fù)雜?生成的測(cè)試施加也比較困難?