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數(shù)字調(diào)諧系統(tǒng)芯片增加控制線及觀察點(diǎn)的具體做法如下￤1)測試狀態(tài)的建立根據(jù)該系統(tǒng)上電時(shí)復(fù)位輸入端RES ...

探針臺基于通路敏化進(jìn)行集成電路測試碼生成的具體步驟如下￤1?設(shè)置故障效應(yīng)?最常用的故障模型為固定電平 ...

通過探針臺的集成電路測試技術(shù)中?測試碼生成的方式主要有兩種￤基于故障的確定性測試生成方法和生成符合隨 ...

隨著集成電路設(shè)計(jì)和制造技術(shù)的發(fā)展?一個(gè)集成電路芯片上可能集成了上千萬個(gè)甚至更多的元件?由于上面提到的 ...

在進(jìn)行探針臺?測試機(jī)等設(shè)備的電路測試前?我們需要了解集成電路的基本性能指標(biāo)?特別是電性能和電參數(shù)?它 ...

對于集成電路晶圓測試來說?通常要經(jīng)過以下幾個(gè)工藝步驟￤1.合格晶圓接收；2.晶圓烘焙；3.晶圓測試； ...

集成電路的性能和特性主要受到電路設(shè)計(jì)和制造工藝的影響?同時(shí)也與電路的工作條件?如電源電壓?環(huán)境溫度等 ...