偽窮舉測(cè)試是集成電路測(cè)試技術(shù)中的一種方法?它可以大大減少探針臺(tái)等設(shè)備總的測(cè)試次數(shù)和時(shí)間?偽窮舉測(cè)試具體方法如下￤

?根據(jù)待測(cè)電路的輸出對(duì)輸入的依賴關(guān)系?通?？梢园汛郎y(cè)電路分成兩大類(lèi)：全局相關(guān)電路和局部相關(guān)電路。對(duì)于局部相關(guān)電路?假設(shè)其輸入端數(shù)量為n?輸出端數(shù)量為m?如果不進(jìn)行電路劃分直接通過(guò)輸入組合進(jìn)行測(cè)試?則測(cè)試次數(shù)為2^n;如果把該電路劃分成m個(gè)子電路?那么每一個(gè)子電路的輸入端數(shù)量n∨i肯定小于n,分別對(duì)這些子電路進(jìn)行窮舉測(cè)試?總的測(cè)試次數(shù)為N?這種方法總的測(cè)試次數(shù)N肯定小于2^n?

?對(duì)于全局相關(guān)電路?探針臺(tái)等設(shè)備不能按照上面的方法進(jìn)行電路的劃分來(lái)達(dá)到減少測(cè)試次數(shù)的目的?需要采用其他電路劃分方法?