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探針臺(tái)主要用于半導(dǎo)體行業(yè)?光電行業(yè)?集成電路以及封裝的測(cè)試?它廣泛應(yīng)用于復(fù)雜?高速器件的精密電氣測(cè)量 ...

隨著5G?人工智能?物聯(lián)網(wǎng)等新興技術(shù)的快速發(fā)展?科技智能產(chǎn)品正逐漸滲透到我們的日常生活和工作中?而這 ...

探針臺(tái)基于通路敏化進(jìn)行集成電路測(cè)試碼生成的具體步驟如下￤1?設(shè)置故障效應(yīng)?最常用的故障模型為固定電平 ...

通過探針臺(tái)對(duì)固定電平故障檢測(cè)生成測(cè)試碼方法￤固定電平故障￤是指導(dǎo)致電路中某一個(gè)節(jié)點(diǎn)電平為固定值的這一 ...

通過探針臺(tái)的集成電路測(cè)試技術(shù)中?測(cè)試碼生成的方式主要有兩種￤基于故障的確定性測(cè)試生成方法和生成符合隨 ...

隨著集成電路設(shè)計(jì)和制造技術(shù)的發(fā)展?一個(gè)集成電路芯片上可能集成了上千萬個(gè)甚至更多的元件?由于上面提到的 ...

探針臺(tái)一般會(huì)聯(lián)用到一些源表?對(duì)測(cè)試對(duì)象輸入輸出電流電壓?從而達(dá)到一些電學(xué)測(cè)試目的?靜態(tài)電參數(shù)測(cè)試對(duì)于 ...

在進(jìn)行探針臺(tái)?測(cè)試機(jī)等設(shè)備的電路測(cè)試前?我們需要了解集成電路的基本性能指標(biāo)?特別是電性能和電參數(shù)?它 ...

光致發(fā)光光譜實(shí)驗(yàn)技術(shù)通過激發(fā)材料中的電子?激子或其他載流子?并分析其發(fā)射的光譜?以研究材料的光電性質(zhì) ...

探針卡板上的探針與管芯的被測(cè)端(壓焊點(diǎn))相連?使得探針臺(tái)能夠?qū)@些部位進(jìn)行測(cè)量?通常情況下?探針卡板 ...