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武漢光谷薄膜前面說(shuō)了集成電路微控制器測(cè)試隨機(jī)存取掃描?今天我們了解下集成電路微控制器測(cè)試減少干擾掃描 ...

前面武漢光谷薄膜提到最常見(jiàn)的掃描設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)方式是采用數(shù)據(jù)選擇器?這樣可以把時(shí)序電路的測(cè)試轉(zhuǎn)換為組合電路 ...

傅立葉紅外光譜（Fourier Transform Infrared Spectroscopy?FT ...

武漢光谷薄膜整理了集成電路掃描設(shè)計(jì)技術(shù)介紹供大家參考?時(shí)序電路測(cè)試比組合邏輯電路測(cè)試要復(fù)雜?為了使電 ...

武漢光谷薄膜技術(shù)有限公司成立于2018年?總部位于武漢東湖綜合保稅區(qū)?該公司作為國(guó)家高新技術(shù)企業(yè)?以 ...

數(shù)字調(diào)諧系統(tǒng)芯片增加控制線及觀察點(diǎn)的具體做法如下￤1)測(cè)試狀態(tài)的建立根據(jù)該系統(tǒng)上電時(shí)復(fù)位輸入端RES ...

電路測(cè)試方法包括模塊劃分?增加控制線及觀察點(diǎn)?消除電路中的冗余邏輯等?下面以實(shí)際電路為例具體介紹兩種 ...

隨著集成電路規(guī)模的快速增大?集成電路測(cè)試的困難和復(fù)雜度也不斷增加?因此在集成電路設(shè)計(jì)階段就要考慮測(cè)試 ...

偽隨機(jī)測(cè)試生成方法是一種測(cè)試方法?它可以生成符合隨機(jī)特征數(shù)據(jù)的測(cè)試圖形?這種方法通常由微處理器的測(cè)試 ...

偽窮舉測(cè)試是集成電路測(cè)試技術(shù)中的一種方法?它可以大大減少探針臺(tái)等設(shè)備總的測(cè)試次數(shù)和時(shí)間?偽窮舉測(cè)試具 ...