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探針臺(tái)作為一種精密的科學(xué)儀器?其應(yīng)用領(lǐng)域廣泛且多樣?以下是探針臺(tái)的主要應(yīng)用領(lǐng)域?半導(dǎo)體行業(yè)￤進(jìn)行集成 ...

探針臺(tái)的工作原理是通過其精細(xì)的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和控制系統(tǒng)?實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品的準(zhǔn)確測(cè)量和分析?1?定位￤通過樣品臺(tái)精 ...

探針臺(tái)其組成部分可以按照不同的功能模塊來劃分?下面是探針臺(tái)的主要組成部分?探針臺(tái)臺(tái)體￤這是探針臺(tái)的基 ...

探針臺(tái)(Probe Station)是一種用于對(duì)半導(dǎo)體器件進(jìn)行電性能測(cè)試的設(shè)備?探針臺(tái)是一種用于半導(dǎo) ...

數(shù)字調(diào)諧系統(tǒng)芯片增加控制線及觀察點(diǎn)的具體做法如下￤1)測(cè)試狀態(tài)的建立根據(jù)該系統(tǒng)上電時(shí)復(fù)位輸入端RES ...

電路測(cè)試方法包括模塊劃分?增加控制線及觀察點(diǎn)?消除電路中的冗余邏輯等?下面以實(shí)際電路為例具體介紹兩種 ...

隨著集成電路規(guī)模的快速增大?集成電路測(cè)試的困難和復(fù)雜度也不斷增加?因此在集成電路設(shè)計(jì)階段就要考慮測(cè)試 ...

偽隨機(jī)測(cè)試生成方法是一種測(cè)試方法?它可以生成符合隨機(jī)特征數(shù)據(jù)的測(cè)試圖形?這種方法通常由微處理器的測(cè)試 ...

偽窮舉測(cè)試是集成電路測(cè)試技術(shù)中的一種方法?它可以大大減少探針臺(tái)等設(shè)備總的測(cè)試次數(shù)和時(shí)間?偽窮舉測(cè)試具 ...

探針臺(tái)基于通路敏化進(jìn)行集成電路測(cè)試碼生成的具體步驟如下￤1?設(shè)置故障效應(yīng)?最常用的故障模型為固定電平 ...